韓國XRF-2000測厚儀標準片的詳細資料:
韓國XRF-2000測厚儀標準片
標準片X射線鍍層測厚儀通用
用于X-RAY膜厚儀曲線建立及校準
適合各種X射線鍍層測厚儀
測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。
也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。以此標準曲線來測量鍍層樣品
以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
韓國XRF-2000測厚儀標準片
標準片X射線鍍層測厚儀通用
用于X-RAY膜厚儀曲線建立及校準
金,鎳,銅,錫,銀,鋅,鋅鎳合金等標片均有,各種厚度值均可訂制
標準片均附帶證書
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